測(cè)量方法分類:
1、 按是否直接量出所需的量值,分為直接測(cè)量和簡(jiǎn)接測(cè)量。
(1) 直接測(cè)量 從計(jì)量器具上直接讀出被測(cè)參數(shù)的量值,稱為絕對(duì)測(cè)量法或相對(duì)測(cè)量法。
(2) 間接測(cè)量:測(cè)量有關(guān)量通過一定的函數(shù)關(guān)系求得。如正弦尺測(cè)角度。
2、 按測(cè)量時(shí)是否與標(biāo)準(zhǔn)器具比較可分為絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量。如測(cè)長(zhǎng)儀測(cè)直徑。
3、 按零件被測(cè)參數(shù)的多少,可分為擔(dān)心測(cè)量和綜合測(cè)量。
4、 按被測(cè)零件表面是否與測(cè)量頭接觸,分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量。
5、 按測(cè)量技術(shù)在機(jī)械制造工藝過程中所起的作用,分為主動(dòng)測(cè)量和被動(dòng)測(cè)量。
6、 按被測(cè)零件在測(cè)量過程中所處的狀態(tài)分為靜態(tài)測(cè)量和動(dòng)態(tài)測(cè)量。
二、觀察配合的要求
公差:是允許零部件的幾何參數(shù)的變動(dòng)量。
(一) 公差等級(jí)
1、 按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,標(biāo)準(zhǔn)公差是公差等級(jí)系數(shù)和公差單位的乘積。
2、 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分為20個(gè)公差等級(jí)。從IT01至IT18。
(二) 配合的制度和種類
1、 配合制度
(1) 基孔制——是指偏差為一定的孔的公差帶,與不同基本偏差的軸的公差帶形成的配合?;鶞?zhǔn)孔公差代號(hào)H。
(2) 基軸制——是指是指偏差為一定的軸的公差帶,與不同基本偏差的孔的公差帶形成的配合?;鶞?zhǔn)軸公差代號(hào)h。
2、 配合的種類
(1) 間隙配合——在軸孔配合中,孔的尺寸減去軸的尺寸,差值總為正。
(2) 過盈配合——在軸孔配合中,軸的尺寸減去孔的尺寸,差值總為負(fù)。
(3) 過度配合——在軸孔配合中,孔的尺寸減去軸的尺寸,差值總可能為正也可能為負(fù)。
在軸孔配合中,配合公差越大配合精度越低,反之則越高。
1、 按是否直接量出所需的量值,分為直接測(cè)量和簡(jiǎn)接測(cè)量。
(1) 直接測(cè)量 從計(jì)量器具上直接讀出被測(cè)參數(shù)的量值,稱為絕對(duì)測(cè)量法或相對(duì)測(cè)量法。
(2) 間接測(cè)量:測(cè)量有關(guān)量通過一定的函數(shù)關(guān)系求得。如正弦尺測(cè)角度。
2、 按測(cè)量時(shí)是否與標(biāo)準(zhǔn)器具比較可分為絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量。如測(cè)長(zhǎng)儀測(cè)直徑。
3、 按零件被測(cè)參數(shù)的多少,可分為擔(dān)心測(cè)量和綜合測(cè)量。
4、 按被測(cè)零件表面是否與測(cè)量頭接觸,分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量。
5、 按測(cè)量技術(shù)在機(jī)械制造工藝過程中所起的作用,分為主動(dòng)測(cè)量和被動(dòng)測(cè)量。
6、 按被測(cè)零件在測(cè)量過程中所處的狀態(tài)分為靜態(tài)測(cè)量和動(dòng)態(tài)測(cè)量。
二、觀察配合的要求
公差:是允許零部件的幾何參數(shù)的變動(dòng)量。
(一) 公差等級(jí)
1、 按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,標(biāo)準(zhǔn)公差是公差等級(jí)系數(shù)和公差單位的乘積。
2、 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分為20個(gè)公差等級(jí)。從IT01至IT18。
(二) 配合的制度和種類
1、 配合制度
(1) 基孔制——是指偏差為一定的孔的公差帶,與不同基本偏差的軸的公差帶形成的配合?;鶞?zhǔn)孔公差代號(hào)H。
(2) 基軸制——是指是指偏差為一定的軸的公差帶,與不同基本偏差的孔的公差帶形成的配合?;鶞?zhǔn)軸公差代號(hào)h。
2、 配合的種類
(1) 間隙配合——在軸孔配合中,孔的尺寸減去軸的尺寸,差值總為正。
(2) 過盈配合——在軸孔配合中,軸的尺寸減去孔的尺寸,差值總為負(fù)。
(3) 過度配合——在軸孔配合中,孔的尺寸減去軸的尺寸,差值總可能為正也可能為負(fù)。
在軸孔配合中,配合公差越大配合精度越低,反之則越高。